Characterisation of solid state surfaces and thin layers with nanometre depth resolution by LEIS | ResearchJobs.cz

Česká verze

(pro CZ/SK)

Máte zájem dostávat zajímavé personalizované nabídky akademických a výzkumných pozic (převážně z ČR)?

Vyplňte náš dotazník a zaregistrujte se do našeho newsletteru.

English version

(all countries except CZ/SK)

Are you interested in getting appealing personalized academic and research job offers (mostly from the Czech Republic)?

Fill out our questionnaire and register into our newsletter.

Nemám zájem / Not interested

Tyto stránky používají cookies. Setrváním na stránce souhlasíte s jejich používáním. Více informací